Ресн

Номер патента: 280982

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Мамбстов, Ресн, Тейтйс

МПК: G01N 23/22

Метки: примеси, пробах, флюорита

...и точности анализа при меньших затратах времени и средств.Предлагаемый способ отличается тем, что измельченную пробу подвергают воздействию тлеющего газового разряда, по интенсивности фотостимулировапной экзоэлектронной эмиссии с поверхности пробы судят о количестве флюорита в пробе. На фиг. 1 приведены кривые, характеризующие кинетику затухания фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии с двух проб окиси иттрия с различным содержанием 5 флюорита (С 1(С). Эти кривые ясно показывают зависимость интенсивности эмиссии 1 от количества примеси флюорита в пробах окиси иттрия в определенный момент времени после обработки пробы в тлеющем разряде.0 На фиг. 2 прямыми 1. 2 в двойных логарифмических координатах представлена...