Рашидханов

Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводников в твердом и жидком состояниях

Загрузка...

Номер патента: 1221619

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Алиев, Исаев, Мурзаев, Рашидханов

МПК: G01R 31/00

Метки: жидком, полупроводников, силы, состояниях, твердом, термоэлектродвижущей, электропроводности

...Температурное поле по высо"те регулируют при помощи верхней (а)и нижней (с) секций. Электропроводность определяют двухзондовым методом по компенсационной схеме на постоянном токе при двух его направлениях посредством зондов 19 и термопар 18. Электропроводность и термо-ЭДС измеряют при температурах до1200 С в вакууме или в атмосфереинертного газа. 1 ил,2термопарные 18 и токовые 19 зонды. Размеры измерительной ячейки 6, необходимые при расчете электропроводнос" ти исследуемого образца 7, определяются предварительно.Устройство работает следующим образом.Рабочий объем корпуса 1 после вакуумироваиия заполняют аргоном под давлением 5-6 атм. Откачку и заполнение инертным газом рабочего объема производят через штуцер 4. Исследуемый образец...

Устройство для измерения магнитных свойств тонких пленок

Загрузка...

Номер патента: 996962

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Мурзаев, Рашидханов, Страхов

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, пленок, свойств, тонких

...работает следующим образом.В процессе обеэгаживания прибора, на внутреннюю поверхность которого йанесен проводящий слой 5 оО, обеэга живают испаритель с мелкими кристаллами исследуемого вещества (напри.мер СОТе) пропусканием тока силой 5-10 А через молибденовую спираль, намотанную на испаритель 11, иэготов ленный из кварцевой трубки в виде ампулы и впаянный в нижнюю часть стеклянного прибора. При этом кварцевую трубку-заслонку 10 выдвигают наклоном прибора,в положение 10 , предотвращающее попадание молекулярного пучка иэ ампулы испарителя 11 на диск-подложку 6. После обезгаживания при достижении необходимого вакуума, прибор отпаивают от вакуумной уста новки, кварцувую трубку-заслонку возвращают в исходное положение, исключающее...

Устройство для измерения магнитных свойств тонких пленок

Загрузка...

Номер патента: 638904

Опубликовано: 25.12.1978

Авторы: Рашидханов, Страхов

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, пленок, свойств, тонких

...может быть покрыта проводящим слоем.На чертеже представлена структурная схема устройства.Устройство содержит диск 1 из слабомагнитного материала, маску-трафарет 2, испаритель 3, проводящее покрытие 4, кварцевую нить 5, кварцевую трубку б, магнитный подвес 7 и полюсные наконечники 8 и 9.Устройство работает следующим образом.В процессе обезгаживания прибора необходимо обезгазить испаритель с веществом, Это достигается прогревом испарителя при расположении кварцевой трубки в положении б, предотвращающем попадание молекулярного пучка на диск- подложку. Затем кварцевую трубку б перемещают в положение б и включением/магнита убеждаются в отсутствии крутящего момента диска без пленки в магнитном поле, Далее выключают магнит и включают...