Подстречный
Устройство для измерения декремента колебаний образцов
Номер патента: 597947
Опубликовано: 15.03.1978
Авторы: Гусев, Дягилев, Подстречный, Токарев
МПК: G01N 11/16
Метки: декремента, колебаний, образцов
...подшипом укреплен эая перемещения зла с зажимомв подшипниках 9, н планшайбы 10, набранной из нескольких дисков, Узел зажима образца связан с корпусом 11 устройства при помощи направляющих 12.Электронная измерительная система устройства состоит из измерительного усилителя 13, вольтметра 14, осциллографа 15, амплитудного дискриминатора 16 и счетчика 17 импульсов. Микроскоп 18 служит только для тарировки электронной измерительной сис тевье по амплитуде колебаний образца.Устройство работает следующим образом.Автоколебания образца 6 возбуждаются с помощью катушек 2, питаемых от генератора 4 колебаний через усилитель 5 мощности. Электрический сигнал от приемника П колебаний усиливается усилителем 13 и подается на амплитудный дискриминатор...