Подковырова

Устройство для контроля качества объективов

Загрузка...

Номер патента: 1204986

Опубликовано: 15.01.1986

Авторы: Ильинский, Подковырова, Русинов

МПК: G01M 11/02

Метки: качества, объективов

...1 света с помощью кондсцсора 2 освещает точечную ди"афрагму 4, расположенную в фокальцой плоскости коллнматорного объектива 5. Для достижения хорошейпомехозащнщеннасти оптико-электрон 45цой схемы от паразитных засветокц высокой чувствительности за кандепсатором 2 установлен модулятор3 световога потока, Контролируемаясистема строит иэображение диафрагмы 4 в предметной плоскостимикроабъектива 7, который создаетувеличенное изображение пятна рассеяция контралируемага объектива6 на диагональной отражающей грани призмы - куба 8, Увещчениемикроабъектива 7 должно быть, такимчтобы пятна раасеяцця, ааздава-Н 86 2емое эталонным объективом или апре деленное расчетными данными "вписывалось" в отверстие на отражающей грани...