Подкарытов

Номер патента: 1569545

Опубликовано: 07.06.1990

Автор: Подкарытов

МПК: G01C 11/04

Метки: объектов, съемки, фотограмметрической

...с учеам влияния взаимных ошибок двух экспозиций. 1 ил,1меры устанавливают напротив исследуемого объекта и выполняют фатаграАирование исследуемого объекта.Для исключения ошибок из-за смещения Аотоматериала при смене положения фотокамер экспонируют две группы координатных меток. Во время съемки тест-объекта экспонируют первую группу координатных меток 1, а при АатограАировании исследуемого объекта - вторую группу координатных меток 2. Положение второй группы координатных меток известно относительно первой с точностью измерения на стереоприборе. Элементы внутреннего ориентирования и дистарсию объектива Аотокамеры определяют относительно первой группы координатных меток па координатам контрольных точек тест-объекта,При вычислении...