Паймушев

Номер патента: 1758420

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Акопян, Гусев, Иванцов, Паймушев

МПК: G01B 11/18

Метки: деформаций

...многослойного материала, для световодов выбирают материал с коэффициентом теплового расширения, близким к коэффициентам теплового расширения оболочки и примыкающих к ней слоев многослойного материала, а толщину оболочек выполняют по меньшей мере в три раза меньше толщины примыкающих слоев.Изобретение содержит в себе следующие признаки: световоды разной длины предварительно укладывают в демпфирующую оболочку по синусоидальным эквидистантным траекториям с одинаковымпериодом синусоид в порядке возрастанияам пл итуд си ну саид.Перечисленные выше признаки способа позволяют существенно расширить диапазон измерений деформаций за счет 5увеличения числа световодов, Пусть, например, необходимо поднять верхнюю границуизмеряемых деформаций выше...