Оситинская

Номер патента: 1052962

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Миклушис, Оситинская, Подоба

МПК: G01N 25/18

Метки: твердых, тел, теплопроводности

...изобретения - уменьшение погрешности определения теплопронодности и расширение функциональныхвоэможностей устройства.Поставленная цель достигаетсятем, что в устройство для определения теплопроводности твердых телпроизвольной формы, например зеренснерхтнердых материалон, содержащеецилиндрическую вакуумную камеру смикроскопом по оси которой последовательно установлены теплосток стермопарой, образец и термозонд с наконечником из полупроводникового алмаза, дополнительно введены кинематически связанные микроскоп и механизмперемещения образца по торцоной поверхности теплотока, выполненногон виде Т-образного цилиндра, пооси которого закреплена дифферен.циальная термопара.На чертеже изображена схема устройства для определения...

Номер патента: 708208

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Вишневский, Гонтарь, Оситинская

МПК: G01N 25/18

Метки: твердых, тел, теплопродности, термозонд

...тепла;ЬТ - разность температур в зоне ввода тепла Т ) и напротивоположной стороне образца Т)Оля надежного измерения теплопроводности подобным термозогдом необходимоточное измерение разности температурйТИзмерение Тне вызывает затруднений,а измерение Т в описанном устройственепосредственно осуществить невозможно. Возникает необходимость калибровкиустройства на кристаллах с известнойтеплопроводностью с целью определениясоставляющих перепада температур ЬТКалибровка по кристаллам с очень высокой теплопроводностью осложняется отсутствием алмазных эталонов, т. е, крлсталлов с точно известной величиной Д.Это вызывает необходимость пров .дениядополнительного цикла измерений Лэтих материалов известными методами иустройствами на образцах больших...