Мулукаева

Способ измерения анизотропии магнитной

Загрузка...

Номер патента: 285108

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бсесо, Колосницын, Мулукаева

МПК: G01R 33/12

Метки: анизотропии, магнитной

...поворота кристалла в статическом магнитном поле. Величина Я в добротнос механической колебательной системы в современных измерительных устройствах - достигает порядка 1000 и более, Далее измеряют амплитуду и фазу колебаний, по которым вычисляют разности между диагональными компонентами и все недиагональные компоненты тензора магнитчой восприимчивости, В свою очередь, по этим данным определяют магнитную структуру - направление главных магнитных осей - кристалла слабо- магнитного вещества и магнитную анизотро пию кристалла - разности между магнитнымивосприимчивостями вдоль главных магнитныхосей.На чертеже представлена схема устройства,при помощи которого может быть осуществленпредлагаемый способ. 5Исследуемый образец подвешивают на нити 2...