Мордухов

Номер патента: 1272099

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Капралов, Мордухов

МПК: G01B 7/06, G01N 7/14

Метки: металла, процесса, химической

...деления, Это позволяет вести процесс контроля обработки детали с заранее задачной программой, определяемой блоком 17 задания, параметра, выполнение которой фиксируется индикатором 16, Таким образом, второй вариант устройства ориентирует на использованиеего в автоматизированных системахконтроля процесса,Датчик 8 нижнего уровня вьптолнен е возможностью перемещения и фик сации положения, его верхняя часть,расположенная над гаэосборником 5,снабжена шкалой 9 в связи с тем чтохимической обработке подвергаетсязначительный ассортимент деталей с 20различными параметрами глубины Фрезерования или нанесения на них гальванических покрытий разной толщины.Вследствие этого размеры эталоннойпластины также будут варьировать в 25широких...