Мархвида

Номер патента: 1810748

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Дик, Мархвида, Рубанов, Танин

МПК: G01B 11/00

Метки: линейных, перемещений, поверхности, продольных

...А спектральной гармоники в спектре флуктуаций интенсивности спекл-поля и строят калибровочную кривую зависимости амплитуды А от продольной координаты датчика 2, Перемещение контролируемой поверхности приводит к изменению геометрических параметров оптической схемы устройства, таких как диаметр освещаемого участка поверхности диффузно-рассеивающего элемента, расстояния от фокуса линзового элемента до диффузно-рассеивающего элемента, а следовательно и радиуса кривизны волнового фронта, падающего на диффузно-рассеивающий элемент. Изменение этих параметров оказывается на динамической трансформации спекл-поля и проявляется, в частности в изменении амплитуды А спектральной гармоники флуктуаций интенсивности регистрируемого поля,...

Номер патента: 1765768

Опубликовано: 30.09.1992

Авторы: Дик, Мархвида, Рачковский, Танин

МПК: G01B 11/00, G01P 3/36

Метки: вращающихся, диффузно-рассеивающих, объектов, продольного, смещения

...диффузно-рассеивающего объекта - а, ширина перетяжки - го, Движение объекта приводит к изменению спекл-поля, образованного рассеянным от этого объекта когерентным излучением. С помощью фотоэлектрического датчика 5, расположенного на расстоянии Й от исследуемого объекта, через полевую диафрагму 4 регистрируют и преобразуют флуктуации интенсивности спекл-поля в электрический сигнал, который поступает на анализатор 6 спектра, посредством которого производят разложение полученного электрического сигнала в спектр. С целью оптимальной работы устройство необходимо, чтобы размер полевой диафрагмы 4 фотоэлектрического датчика 5 был соизмерим с размером единичного спекла. Регистрируют амплитуду А спектральной гармоники в спектре флуктуаций...

Номер патента: 1474551

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Лопес, Мархвида, Рачковский, Танин

МПК: G01P 3/36

Метки: движения, диффузно-рассеивающих, объектов, скорости

...2 идиафрагмами ,7 поля зрения, фотоприемного блока б,б, спекл-поле регистрируют в фотоприемном блоке. Число спекл-структур, наблюдаемых в полезрения фотоприемного блока, прямопропорционально скорости движенияспекл-поля Ч = М Ч , где Ч - ско"рость объекта, М - линейное увеличение объектива 2, Изменение интенсивности спекл-поля в плоскости диафрагм7,7 преобразуется в электрическиесигналы, при этом число Флуктуацийэлектрического сигнала в единицу .времени определяет электронный блок 8.Сканирование составляющих спекл-поля осуществляют с заданными скоростями КЧ(например, в направленииХ).и КЧ (в направлении У), первого 4 и второго 5 сканаторов, Электрический сигнал с выхода Фотоприемного блока поступает на вход электронного блока 8 обработки...

Номер патента: 1310624

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Мархвида, Танин

МПК: G01B 9/021

Метки: диффузных, объектов, параметров

...5Целью изобретения является повышение информативности путем обеспечения возможности получения интерференционной картины, по которой определяют параметры объекта в реальном масштабе времени.На чертеже представлена оптическая схе ма реализации способа.На схеме представлен лазер 1, свето- делитель 2, формирующий изображение объекта объектив 3, электрооптически й элемент 4, фоторегистрирующая среда 5, линза 6, позицией 7 обозначена плоскость регистрации интерференционной картины, позицией 8 - исследуемый объект.Предлагаемый способ осуществляется следую 1 цим образом.Освещают объект 8 пучком когерентного линейно поляризованного излучения от лазера 1 и фокусируют когерентное излучение посредством объектива 3 в плоскость фоторегистрирующей...