Лотох

Номер патента: 1012161

Опубликовано: 15.04.1983

Авторы: Данилин, Загоровский, Кравченко, Лотох, Прытков

МПК: G01R 31/26, G01R 31/28

Метки: качества, конструкции, полупроводниковых, приборов, соединений, элементов

...необходкмо предварительное измерение термочувствительного параметра при фиксированной температуре (время операции болеедесяти мин), а также использование двухсерий импульсов, нагревающих полупроводниковый прибор с постепенным наросганием их амплитуды и измерении каждыйраз после окончания очередного импульса термочувствительного параметра.Кроме того, данный способ не обладаетвысокой точностью, имеет место погрешность измерений, связанная с неконтролируемьм Охлаждением кристалла за время измерения термочувствительного параметра (после переключения от греющеготока к измерительному).Целью изобретения является повышение быстродействия и точности контроля.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу контроля качествасоединений...