Куприевский

Номер патента: 750286

Опубликовано: 23.07.1980

Автор: Куприевский

МПК: G01H 11/00

Метки: колебаний, механических, параметров

...по обеим сторонам щели диафрагмы 9.Способ измерения параметров механических колебаний заключается . в следующем.На элемент 1 поверхности исследуемого объекта проектируют сфокусированный световой луч, проекция которого имеет вид прямоугольной световой марки, Ширина проекции световой марки устанавливается равной ширине цели диафрагмы 9. Приемную оптическую систему настраивают таким образом, чтобы щель диафрагмы 9 была на оси симметрии колебаний изображения световой марки. Иэображение световой марки отраженное от исследуемой поверхности, поступает через объектив 7 и щелевую диафрагму 9 на фоточувствительный элемент 8. При периодических, гармонических или импульсных колебаниях элемента 1 поверхности исследуемого объекта положений...