Кибальченко
Способ оптимизации процесса механической обработки
Номер патента: 1098674
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Кибальченко, Подураев
МПК: B23B 25/06
Метки: механической, оптимизации, процесса
...свойств микронеровностей. Поэтому энергия соударения последних уменьшается, т.е. уменьшается значение моды АР сигналов ЛЭ, Однако общее число импульсов увеличивается за счет увеличения скорости резания. Таким образом, до точки излома, т.е. максимального значения моды АР, доминирующим является адгезионно-усталостный износ. При увеличении температуры в зоне контакта процесс адгезионного схватывания становится менее интенсивным, что приводит к повышению стойкости инструмента. В дальнейшем (за точкой излома) начинает доминировать диффузионный износ и стойкость инструмента падает, При этом точка излома является границей доминирующих адгезионного и диффузионного износов режущего инструмента, в которой суммарный износ является минимальным.АР...
Способ контроля износа режущего инструмента и устройство для его осуществления
Номер патента: 1038083
Опубликовано: 30.08.1983
Авторы: Барзов, Кибальченко, Марголис, Пащенко, Подураев, Фалькович
МПК: B23B 25/06
Метки: износа, инструмента, режущего
...сигнала, /Для исследования влияния условийконтакта на изменение беэразмерНого комплекса используют соотношение 25 3 1мыми порогами дискриминации, первыйдвоичный счетчик импульсов с регулируемым числом двоичных разрядоввторой двоичный счетчик импульсов,цифроаналоговый преобразователь,аналоговый запоминающий блок, к выхо.ду которого подключен блок регистрации, причем вход дифференциальногодискриминатора подключен к выходуосновного усилителя, а второй входвторого счетчика импульсов подклЬченк выходу первого дискриминатора,На фиг, 1 изображена блок-схемаустройства для контроля износа режущего инструмента; на фиг, 2 и 3зависимости сигнала АЭ от износа режущего инструмента,Способ контроля износа режущегоинструмента основан на том, что...
Способ оптимизации процесса резания
Номер патента: 1013104
Опубликовано: 23.04.1983
Авторы: Барзов, Голдобин, Кибальченко, Подураев
МПК: B23B 1/00
Метки: оптимизации, процесса, резания
...низкая точность определения величины оптимизируемого параметра, обусловленная тем, что известный способ не учитывает акустическое сопротивление волнового тракта зона резания - датчикЦель изобретения - повышение точности определения величины оптимизируемого параметра.Эта цель достигается тем, что при выборе технологических параметров с использованием графика зависимости суммарного импульса упругих волн напряжений, генерируемых в зоне резания в единицу времени на единице пути от величины оптимизируемого параметра - 1 , на вход волноАйчводного тракта зона резания- датчик подают калиброванный сигнал волн напряжений, на выходе измеряют амплитуду текущего его значения, , строят график зависимостиХй Асс мингде Х - величина...
Анализатор функций плотности распределения
Номер патента: 987638
Опубликовано: 07.01.1983
Авторы: Гуткин, Кибальченко, Любич
МПК: G06G 7/52
Метки: анализатор, плотности, распределения, функций
...которого соединен с первым входомкоммутатора 5, второй вход которого подключен к выходу дифференциального усилителя 9,входы которого соединены с коллекторамиЭЛТ 6.Блок 8 синхронизации состоит из генератора4510 импульсов, соединенного с входом коммутатора 7 и,через линию 11 задержки - с первымвходом коммутатора 5,Устройство работает следующим образом.Исследуемый сигнал Х (т) подается на горизонтально отклоняющие пластины ЭЛТ б,50при этом электронный луч отклоняется в горизонтальной плоскости пропорционально мгновенному значению сигнала Х (т). В каждыймомент времени электронный луч находится вобласти одной из пар функциональных пластинполитрона. Если с помощью коммутатора 7задавать.в каждом такте коммутации потенциальный рельеф на...
Анализатор функций плотности распределения
Номер патента: 982026
Опубликовано: 15.12.1982
Авторы: Гуткин, Кибальченко, Любич
МПК: G06G 7/52
Метки: анализатор, плотности, распределения, функций
...потенциальный рельеф на функциональных пластцнах политронс 5" 540 таким образом. Чтобы напряжение (3 йа первой паре функдиональн х пласти попитрона 51 было противопаожно по знаку напряжениям на всех остальных парах этого политрона, напряжение (3 на второй паре функциональных пдастйн попитронв 52 противоположно по знаку напряжениям на всех остапьньк парах политрона 5, и т.д., до десятой ,пары функциональнйх пластин пщтитронв 8 р, нв которой напряжение О, также противоположно по знаку напряжениям ,на всех остальных парах функциональныхпластин политрона 5, причем напряжения О О 0 " равны по величинеМОи одного знака, то с ксдлекторов цолитронов 550 за период анализа 1 сиг нала К(), снимается последовательность импульсов,...
Способ активного контроля техпроцесса
Номер патента: 971620
Опубликовано: 07.11.1982
Авторы: Барзов, Кибальченко, Подураев
МПК: B23Q 15/00
Метки: активного, техпроцесса
...значений Физико-технологических параметров, определении по заложенным вэлектронно-вычислительную машинузависимостям значвний параметров волновых процессов (не содержащих информацию о контролируемых технологических,параметрах т.к., выбраны такиеФизико-технологические параметры, ко 4торые не коррелируют с контролируемыми технологическими параметрами)и сравнении последних со значениямипараметров волновых процессов, полуюченных при обработке, и следовательно, содержащих информацию о контролируемых технологических параметрах,Предлагаемый способ осуществляется следующим образом,Измеряют в процессе обработки значения физико-технологических параметров (например, тангенциальную составляющую силы резания), которые не корректируют с...
Устройство для классификации случайных процессов
Номер патента: 963001
Опубликовано: 30.09.1982
Авторы: Гуткин, Кибальченко, Любич
МПК: G06G 7/52
Метки: классификации, процессов, случайных
...трубки типа "Политрон".На фиг. 1 показана блок-схема.предлагаемого устройства; на фиг, 2потенциометрический блок заданияуровня напряжения с ЭЛТ "Политрон".Устройство для классификациислучайных процессов состоит из уси 5 0к интеграторам ба и бо, выходы котом рых подключены к входам блока 7 срав 23 иэ исследуемого сигнала выделяются:39 33 40 43 лителя 1, выход которого соединен свходом блока 2 выделения уровней,выходы которого подключены к однойиэ пластин горизонтального отклонения каждой электроннолучевой трубки типа "Политрон" 3 а и 3 о. Вторыегоризонтально отклоняющие пластиныподключены к шине. "Корпус". К функциональным пластинам ЭЛТ "Политронов" подключен потенциометрическийблок 4 задания уровня напряжения.Выходы каждого...
Устройство для психофизиологическихисследований
Номер патента: 827029
Опубликовано: 07.05.1981
Авторы: Гориславский, Гуткин, Кибальченко, Шеремет
МПК: A61B 5/16
Метки: психофизиологическихисследований
...испытуемый нажимает на пульте 10оператора кнопку конца ввода чисел, вырабатывающую сигнал, по которому генера тор 3 меток времени останавливается, на пульте оператора гасится табло начала опроса, а содержимое сумматора 8 (сумма чисел, предъявляемых испытуемому) подастся на вычитающий вход сумматора 9, в котором при подаче этого же сигнала на тактовый вход происходит операция вычитания. С соответствующей задержкой времени этот же сигнал передает содержимое сл матора 9 и счетчика 12 на индикатор 11 ошибок, обнуляя содержимое сумматоров 8 и 9 и счетчика 12, На индикаторе 11 ошибок исследователю нндуцируются соответственно суммарная ошибка, допущенная испытуемым при воспроизведении серии предьявленных ему чисел, и время, которое...