Хинтицкая

Номер патента: 1613877

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Матикс, Хинтицкая, Шенфельд

МПК: G01K 7/00

Метки: величин, физических

...определяемой вели1613877 ух = а 1+ агх+ аЗхг; ух + 9= а 1+ аг (Х+О) + аз ( Х+0) г; Составитель Е.РязанцевТехред М.Моргентал Корректор О.Кравцова Редактор С.Лисина Заказ 3886 Тираж 50 Д Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открцтиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 чины Х и тестовой величины КХ, где К - параметр мультипликативного теста.Известен способ определения физических величин, использующий квадратичную аппроксимацию и основанный на проведении четырех последовательных измерений показаний чувствительного элемента при воздействии исследуемой величины Х, тестовой величины Х+ 01, тестовой величины Х +6 Ь,...

Номер патента: 1219928

Опубликовано: 23.03.1986

Авторы: Сумительнов, Хинтицкая

МПК: G01K 7/22

Метки: температуры

...установлениятеплового равновесия через полупровоцниковый терморезистор (ПТР) пропускают импульс тока с параметрами,определяемыми из выражениял Бъб В (1) ."и СГгК Ттгде Т - длительность импульса тока;- постоянная времени ПТР;Б - коэффициент энергетическойзчувствительности ПТР,С - теплоемкость ПТР,В - постоянный коэффициент ПТР;Т - температура, значение ко -торой задается из требуемого диапазона измерения,К - сопротивление ПТР, соответствующее заданной температуре;3 - заданная относительная по -Тгрешность определения температуры,1 - ток через Г 1 ТР.При этом при первом пропусканиитока параметры импульса тока опредеоляются грубо с учетом типа ПТР, еготеплофизических характеристик, диапазона измеряемых температур, значение тока выбирается...

Номер патента: 1173328

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Матикс, Сумительнов, Хинтицкая

МПК: G01R 19/00

Метки: величин, неэлектрических, электрических

...и может быть использовано во многих отраслях промышленности, где требуется, осуществить контроль параметров различной физической природы.Целью изобретения является повышение точности путем замены операции измерения тестовой величины, составленной в виде суммы измеряемой величины и параметра аддитивного теста, операцией измерения образцовой меры, не связанной с измеряемой величиной.На чертеже представлена функциональная схема устройства для измерения радиации, реализующего предложенный способ.Устройство состоит из фильтра 1 и последовательно включенных трансформатора 2, цифрового регистрирующего прибора 3, вычислительного блока 4 и блока 5 индикации.Устройство работает следующим образом.На трансметре 2 выделяется термо- ЭДС Е,...