H01M 23/00 — H01M 23/00

Номер патента: 444279

Опубликовано: 25.09.1974

Авторы: Бузова, Герцик, Набиуллин

МПК: H01M 23/00

Метки: источника, качества, первичного

...а кт ния 10 поз э,д.с.не тока, имею е репмет изоб и те об Цель контроляСпособ контроля качества изготовления первичного источника тока, например, цинк- марганцевой электрохилической системы со шелочным электролитом, путел излерения его э. д. с., о т л и ч а ю ш и й с я тем, что, с целью повьпиения качества контроля, измеряют э. д. с, источника тока непосредственно после изготовления, затем осушеств. ляют повторное измерение э. д. с. после хранения, например, в течение пяти дней, и по разности этих э. д. с. определяют качество изготовления источника тока,Йля этого в пре меряют э. д. с. исто венно после изготовл ляют повторное изме хранения, например, в по разности этих э. О о изготовле и л сле изгот с точличину их Изобретение относится...