H01J 19/00 — Конструктивные элементы электронных вакуумных приборов, отнесенных к группе

Номер патента: 267761

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Гинзбург

МПК: H01J 19/00

Метки: коллектор, пучка, электронного

...и могут доходить до принимающей поверхности (фиг. 2). В последнем случае при нимающая поверхность может иметь ребра,3из немагнитного материала, являющиеся продолжением полюсных наконечников (фиг, 3).Каждый из полюсных наконечников последовательно является северным или южным 20 магнитным полюсом. Магнитное поле целесообразно создавать, например, с помощью блоков 4 из магнитной керамики. В описываемой системе магнитное поле концентрируется вблизи поверхности коллектора н на небольшом 25 удалении ввиду знакопеременности исчезает,не искажая полей, формируютцих электронный пучок. Магнитное поле вблизи поверхности коллектора должно быть достаточно большим, чтобы вторичные электроны, энергия которых 30 меньше энергии первичных, вновь...

Номер патента: 491171

Опубликовано: 05.11.1975

Авторы: Валейка, Гелумбаускас, Киселис, Новак, Пуртулис

МПК: H01J 19/00

Метки: защитный, чехол

...лучей обеспечивают свободное введецие выступа цокольного колпачка, а в корпусе по периметру имеются отверстия, представлгпощцс собой усеченный конус, перехо. дящий в цилиндр,Для достижения хорошей фиксации ца вцутрегцей стороне корпуса чехла со стороцы ц цтральцого отверстия между лучами расположены ступенчатые выступы,На фцг. 1 показан прсдложеццый защитный чехол, продольный разрез; ца фиг. 2 -то же, поперечный разрез, ца фцг. 3 - колпачок, надетый ца выводы кинескопа, продольцый разрез.Защитный чехол представляет собой корпус 1 с буртиком 2. Отверстие 3 в цсцтре кор 1 О пуса,выполцсцо звездообразцым, причем размеры лучей 4 обеспечивают свободное перемещецие выступа б цокольцого колпачка б.По периметру корпуса расположены...

Номер патента: 723979

Опубликовано: 15.07.1981

Автор: Меньшиков

МПК: H01J 19/00

Метки: анали-заторов, заряженных, корректирующий, частиц, электрод

...дорожки может бытьв 10-100 раз больше, чем в прототипе.Благодаря этому в предлагаемом электродде резистивная дорожка имеет в .1.0-10раз меньше поверхностное сопротивление,и для нее могут быть использованы более 0низкоомные и технопогичные материалы, инеобходимость в подгонке сопротивленийразличнь;х участков отпадает,Поскольку шаг спирали в предлагаемомкорректирующем электроде может быть 15сделан, по крайней мере, в 10 раз меньше, чем расстояние между соседними кольцами в прототипе, то при одинаковой относительной точности коррекции краевых попей, предлагаемый корректирующий электрод для анализаторов заряженных частицпозволяет пропорционально уменьшить востолько же раз все размеры анализатора.Практически это дает возможность...