G01N 23/06 — с последующим измерением поглощения

Номер патента: 1402870

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Коньков, Турянский, Федосеева

МПК: G01N 23/06

Метки: проекций, регистрации, рентгеновских, теневых

...осуществления предлагаемого способа содержит рентгеновский излучатель 4, дообъектный коллиматор, 5, нослеобъектный коллиматор б, набор сцинтилляционных детекторов 7, платформу 8 для размещения исследуемого объекта 8, поглощающий экран 10 и механизм 11 сканирования.Крайние лучи рентгеновского пучка показаны стрелками 12 и 13, а направления сканирования показаны стрелками 14 и 15. Способ осуществляют следующим образом.В исходном положении рентгеновский излучатель 4, коллиматоры 5 и б и набор детектора 7 находятся в крайнем левом положении, Поглощающий экран 10 размещен между излучателем 4 и облучаемьм объектом 9, защищая от излучения область объекта 9 от задней по направлению сканирования .(стрелка 14) стороны до его геометрического...

Номер патента: 1495694

Опубликовано: 23.07.1989

Автор: Журавлев

МПК: G01N 23/06

Метки: абсорбционного, анализа, газов, рентгенорадиометрического

...анализа,Площадь поперечного сечения впускного (и выпускного) патрубка должна быть больше или равна суммарной площади всех щелей между газовыми коллекторами и рабочей камерой кюветы,Давление газа в коллекторе по5 Г мере удаления от впускного отверстия падает. Для обеспечения одинаковогорасхода газа через каждую щель площадь щели должна увеличиваться по мере удаления от впускного патрубка. Движение газа по каналам прямоуголь.ной формы можно описать уравнением Гагенауазеля, при этом расход газа Ц раненйР Б0 = - - С,1 Ь 3/ 1где йР - перепад давления на длинеканала 1;Б - площадь щели (сечения канала);1 - динамическая вязкость;С - поправочный коэффициент.Формула для площади щели полученана основе метода электрогидродинамической аналогии,...

Номер патента: 1518743

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Дворниченко, Сергеев, Столяров

МПК: G01N 23/06

Метки: переходов, регистрации, фазовых

...вещества;1 - толщина образца,Массовый коэффициент ослаблениядля энергии гамма-кванта, намного 20большей уровня тепловой энергии, независит ни от молекулярного состава,ни от температуры, ни от агрег-,ногосостояния вещества. При тепловом расширении образца увеличивается его 25размер 1 и одновременно уменьшаетсяМплотность=, Из схемы на Фиг,17легко заметить, что масса М образцапостоянна в изменяющемся объеме, вырезаемом пучком излучения площадьсечения которого Б, а объем Ч = Б 1изменяется только за счет изменения1, отсюда получаем р1 = сопя.Таким образом, интенсивность регистрируемого излучения не зависитот средней плотности вещества, абудет являться Функцией фактора накопления, т.е. многократного рассеяния, который зависит...

Номер патента: 1582096

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Думинов, Журавлев, Климов, Твердохлебов

МПК: G01N 23/06

Метки: газоанализатор, гамма-абсорбционный

...влияния различных дестабилизирующих факторов вданном газоанализаторе применена схема с одним измерительным каналомвкоторый последовательно на равныепромежутки времени вводятся рабочаяи сравнительная газовые кюветы.После завершения процесса перемещения блока кювет микропроцессор 21формирует интервал времени, в течение которого в промежуточный счетчик24 через амплитудный дискриминатор25 поступают импульсы, соответствующие рентгеновским квантам, прошедшимчерез газовую кювету. Промежуточныйсчетчик 24 введен,в связи с тем, чтомикропроцессор 21 не успевает воспринимать каждый из импульсов, поступающих через короткие промежутки времени. Промежуточный двоичный счетчик24 содержит восемь двоичных разрядов,выходы которых подключены к...

Номер патента: 1124697

Опубликовано: 30.03.1991

Авторы: Косарев, Кузелев, Майоров, Юмашев

МПК: G01N 23/06

Метки: плотности, радиационного, тепловыделяющих, элементов

...(практически не более 1/1 О широкого), и шагом между измерениями, равным ширине узкого пучка. Измеренные наборы интенсивностей прошедшего через твэлы излучения запоминают.Измерения контролируемого твэла проводят при просвечивании широким пучком, регистрируя излучение,прошедшее через твэл. Используя зависимость (1) с полученными при калибровке К 1 и К, получают значение плотности в предположении гомогенного распределения материала.Дополнительно проводят измерения каждого слоя твэла, облучаемого широким пучком, и при просвечивании узким пучком. Полученный набор сигналов при сканировании узким пучком последовательно вычитают из наборов,Ьсоответствующим пяти калибровочным измерениям. По наименьшей разности находят тип гетерогенности...

Номер патента: 1762203

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Беляков, Броунштейн, Кричевский, Папченко, Соляков

МПК: G01N 23/06

Метки: компонента, потоке, радиоактивного, содержания, сыпучего

...устройство 11 управляет перемещениями экрана 4, осуществляя циклический режим работы двух счетчиков интенсивности выходных импульсов анэли- затора 10, в которых накапливаются определенные количества импульсов за выбранное время т . Вычислительное устройство 11 выставляет сигнал, в соответствие с которым пневмопреобразователь 6 открывает левую камеру пневмопривода 5, а пневмопреобразователь 7 подает давление в правую камеру пневмопривода 5, При этом поршень пневмопривода б перемещает экран 4 влево, перекрывая излучение источника 1, По сигналу конечного выключателя 12 производится накопление числа Кг импульсов, обусловленных гамма-излучением радиоактивного компонента измеряемого материала, в течение выбранного промежутка времени т. Затем...

Номер патента: 1767402

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Мансуров, Хан

МПК: G01N 23/06

Метки: анализа, фазового

...сульфидной и окисленной фаз молибдена.Сущность изобретения заключается в следующем. Через анализируемую пробу вещества пропускают тормозное излучение, спектр которого имеет максимум в области энергии К-края поглощения молибдена (К-край поглощения молибдена 20,002 кэВ), Между пробой и детектором поочередно помещают плоскопараллельный слой МоОз, МоЯ 2, Мо с поверхностной плотностью 40-60 мг/см и измеряют с погмощью спектрометра скорости счета й, М" и К", соответствующие плотностям потоков фотонов в области энергии 20 кэВ. При этом плоскопараллельные слои МоОз, МоЯ 2 и Мо должны иметь одинаковую поглощающую способность для излучений, несколько отличающихся от 20 кэВ, например, для характеристических излучений родия и молибдена. Иными...

Номер патента: 1823926

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Клемпнер, Кравец, Уманец, Шамшин

МПК: G01N 23/06

Метки: золомера, настройки, радиометрического

...только зольностью угля и колеблется впределах фонового значения. Следовательно, изменяя величину мультипликативнойсоставляющей фона - (с помощью экрана)таким образом, чтобы сигнал на детектореизлучения при отсутствии пробы в зоне измерения сравнялся с суммарным сигналомот пробы и фона мы добьемся выполнениясоотношения ЯА - п при котором достигается полная компенсация влияния степениуплотнения и толщины слоя на показанияприбора,Если удельная радиоактивность породСл слишком высока, т.е, сигнал от пробы сосредней зол ьностью выше фонового излучения со снятой крышкой (4), то вместо стальной крышки для увеличения фона можноиспользовать полую алюминиевую или пластмассовую крышку заполненную "чистой"породой или каким-либо радиоактивнымминералом...

Номер патента: 1115564

Опубликовано: 20.10.1996

Авторы: Волков, Пронкин, Рогожин, Хахалин, Шматок, Штань

МПК: G01N 23/06

Метки: плотности, радиационного, твердых, тел

Способ радиационного измерения плотности твердых тел с допускаемыми отклонениями размеров и формы, включающий просвечивание изделия коллимированным пучком ионизирующего излучения, регистрацию прошедшего излучения и измерение пути прохождения ионизирующего излучения в изделии, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и точности измерения плотности, изделие перемещают в направлении его оси так, что плоскость коллимированного пучка в одном или нескольких направлениях последовательно пересекает ряд поперечных сечений изделия и по суммарному излучению, за фиксированное время измерения, и измеренному среднему пути прохождения излучения в изделии находят плотность.

Номер патента: 1459431

Опубликовано: 20.05.1999

Авторы: Басов, Кузнецов

МПК: G01N 23/06

Метки: жидкости, твердой, уровня, фазы

Устройство для контроля уровня твердой фазы в жидкости, содержащее два источника и два детектора гамма-излучения, расположенные на емкости с жидкой и твердой фазой, два пороговых устройства, первый выход первого порогового устройства через первый ключевой элемент соединен с первыми входами исполнительного механизма и сигнализатора, вторые входы которых через второй ключевой элемент соединены с первым выходом второго порогового устройства, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля, в него введены дополнительные источник и детектор гамма-излучения, расположенные на трубопроводе, подводящем жидкую фазу в емкость, две схемы сравнения и дополнительный ключевой элемент, причем...

Номер патента: 1514074

Опубликовано: 20.11.1999

Авторы: Дмитриев, Шипунов

МПК: G01N 23/06, G21G 4/06

Метки: гамма-излучения, источнике, объемном, радиоактивном, самопоглощения

Способ определения самопоглощения гамма-излучения в объемном радиоактивном источнике, включающий измерение коэффициента линейного ослабления излучения вещества источника (E ), приготовление объемного калибровочного источника, имеющего такие же форму и размеры, как и у источника, для которого производится определение самопоглощения, изменение поглощающей способности калибровочного источника путем введения инертного газа в его основу, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа и расширения диапазона его применения, для всех значений

Номер патента: 1517535

Опубликовано: 20.11.1999

Авторы: Кольцов, Тренкин

МПК: G01N 23/06

Метки: атомных, вещества, деления, осколков, поглощающей, способности, ядер

Способ определения поглощающей способности вещества для осколков деления атомных ядер, включающий регистрацию осколков деления одновременно двумя детекторами, один из которых - ионизационная камера, на катод которой нанесен слой спонтанно делящегося вещества, нанесение слоя исследуемого вещества поверх спонтанно делящегося и повторную регистрацию осколков деления обоими детекторами, отличающийся тем, что, с целью удешевления, упрощения и повышения производительности способа, в качестве второго детектора используют полупроводниковый детектор, рабочая поверхность которого является катодом ионизационной камеры, определяют отношение