G01N 21/44 — G01N 21/44

Номер патента: 486258

Опубликовано: 30.09.1975

Авторы: Бусыгин, Григорянц, Явор

МПК: G01N 21/44

Метки: излучения, поляризации, степени, электомагнитного

...преломлен 0 го луча в пластинах, 3и, - показатель преломления необыкновенного луча, распространяющегося в пластинах перпендикулярно кристаллографической оси.При этом координата плоскости изображений задается величиной р. Для реальных значений д и фокусных расстояний линз указанное условие может быть выполнено только в том случае, если в плоскости установки модулятора строятся уменьшенные изображения источника излучения,На фиг. 1 приведена оптическая и электрическая схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 построен ход лучей после анализатора.Устройство содержит источник излучения 1, плоскопараллельную анизотропную пластину- анализатор 2, собирающую анизотропную пластину 3, спектрограф 4, фокусирующую систему, включающую диафрагму 5,...

Номер патента: 859887

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Воробьев, Гомбалевский, Исаева, Рапопорт, Щипцов

МПК: G01N 21/44

Метки: дефектоскопа, нагреватель, теплового

...трещинс раскрытием в 2-3 раза меньше раскрытия дефектов, выявляемых при нагревеизвестным нагревателем,Таким образом, испсщьзование предла 35гаемого изобретения обеспечивает повышение чувствительности теплового контроля (по сравнению с известным при прочих равных условиях) к плошади и раскрытию выявляемых дефектов не менее, чем40в 6 раз. Формула изобретения. Нагреватель теплового дефектоскопа, .включающий источник излучения, эллиптический отражатель и кожух, о т л и ч а - ю щ и й с я тем, что, с целью повышения чувствительности контроля за счет ло кализации и повышения интенсивности нагрева, он снабжен устройством откачки воздуха с трубопроводом, а со стороны контролируемого изделия отражающими экранами, выполненными в поперечном сече...