Евдощук

Система локализации радиоактивных выбросов на атомной электростанции

Номер патента: 613654

Опубликовано: 20.04.2000

Авторы: Евдощук, Альтшуллер, Шаварин, Турецкий, Хазанов, Мотылев, Пугачева, Козлова

МПК: G21C 9/00

Метки: атомной, электростанции, выбросов, локализации, радиоактивных

Система локализации радиоактивных выбросов на атомной электростанции, содержащая герметичное помещение с оборудованием контура радиоактивного теплоносителя, разделенное на отсеки и отделенное от воздушной полости барботера перегородкой, снабженной каналами, соединяющими отсеки с водяной полостью барботера, отличающаяся тем, что, с целью уменьшения давления в аварийном отсеке и воздушном пространстве барботера при аварии с разрывом контура радиоактивного теплоносителя, отсеки герметичного помещения сообщены с воздушной полостью барботера каналами с обратными клапанами, открывающимися в сторону отсеков.

Способ создания подземного хранилища газа

Номер патента: 1466159

Опубликовано: 20.11.1995

Авторы: Федутенко, Лебедев, Юрченко, Евдощук, Савкив

МПК: B65G 5/00

Метки: подземного, хранилища, создания, газа

1. СПОСОБ СОЗДАНИЯ ПОДЗЕМНОГО ХРАНИЛИЩА ГАЗА, включающий бурение эксплуатационных скважин, закачку буферного и активного объемов газа и последующую откачку активного объема с образованием остаточных запасов газа, отличающийся тем, что, с целью сокращения материальных и энергетических затрат при одновременном сокращении сроков создания хранилища на многопластовом месторождении, буферный объем хранилища формируют путем перепускания в вышележащие горизонты остаточных газов нижележащих горизонтов, при этом перепуск производят за счет перемещения газа из области высокого давления в нижележащих горизонтах в область более низкого давления в вышележащих горизонтах до выравнивания давлений во всех горизонтах хранилища.2. Способ по п. 1,...

Способ создания и эксплуатации многопластовых подземных хранилищ газа

Номер патента: 1427757

Опубликовано: 10.11.1995

Авторы: Резуненко, Евдощук, Лебедев, Савкив, Григорьев, Токой, Федутенко

МПК: B65G 5/00

Метки: создания, многопластовых, подземных, газа, эксплуатации, хранилищ

СПОСОБ СОЗДАНИЯ И ЭКСПЛУАТАЦИИ МНОГОПЛАСТОВЫХ ПОДЗЕМНЫХ ХРАНИЛИЩ ГАЗА, включающий выделение в геологическом разрезе нескольких пластов-объектов для хранения газа, бурение нагнетательно-эксплуатационных и контрольно-регулирующих скважин, оборудование нагнетательно-эксплуатационных скважин обсадной и эксплуатационной колоннами, закачку в выделенные пласты и отбор из них хранимого газа, отличающийся тем, что, с целью снижения затрат на создание и эксплуатацию газохранилищ за счет сокращения числа скважин, при оборудовании нагнетательно-эксплуатационных скважин в каждой скважине эксплуатационные колонны перфорируют в интервале всех выделенных пластов, закачку газа, подлежащего хранению, и его отбор производят одновременно по всем пластам через...

Способ определения мест утечек газа в межколонное пространство скважин

Загрузка...

Номер патента: 1745916

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Старостин, Евдощук

МПК: E21B 47/10

Метки: межколонное, газа, утечек, мест, скважин, пространство

...процесса.Место утечки газа в межколонное пространство определяют по величине разности температур первого и второго замеров,трехкратно превышающей погрешность измерений,35Пооперационное осуществление способа- останавливают скважину;- измеряют межколонное давление;- после стабилизации межколонного 40 давления выдерживают скважину 7-10 суток для установления естественного распределенияя температур;- измеряют температуру по стволу скважины; 45- открывают межколонное пространство;- измеряют температуру по стволу скважины;- вычисляют разность температур первого и второго измерений;- по рээности температур, трехкратно превышающей погрешность измерений, оп- . ределяют глубину места утечки газа в межколонное пространство. .553 э счбт...

Устройство для измерения температуры

Загрузка...

Номер патента: 1525479

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Лещинский, Евдощук, Зеленин, Васильев

МПК: G01K 7/32

Метки: температуры

...5 равен МПри совпадении частоты управляемогогецератора 2 с частотой последовательного резацанса резонатора 8сопротивление этого резонатора,трацсформируемое к выходу линии проводного канала 9, станет много меньше волнового сопротивления провод -ного канала 9. В этом случае проводной канал 9 будет работать в режимекороткого замыкания и разность фаэпрямой и обратной волн будет раннаод+ 180 . Это приведет к изменениюполярности напряжения на выходе фазового детектора б и срабатыванию компаратора 3 напряжения. Выходное напряжение компаратора 3 напряжения закроет первый ключ 12 и тем самым прекратит изменение частоты управляемогогенератора 2, Одновременно выходнымнапряжением компаратдра 3 напряженийзапускается вычислительный блок 4,...

Линия для сварки сеток

Загрузка...

Номер патента: 837669

Опубликовано: 15.06.1981

Авторы: Писный, Бурман, Евдощук, Олейник, Вакуленко, Урецкий

МПК: B23K 11/10

Метки: линия, сеток, сварки

...работает следувицим образом.Механизм 3 подачи продольных проволокразматывает барабаны раэмоточного устройст83766 30 ва 1, при этом продольные проволоки 4 про 1тягиваются через рихтовочное устройство 2.Поперечную проволоку 7 подают из магазинапод электроды сварочной машины 5. послечего производят сварку поперечной проволокис продольными, затем механизм 8 шаговойподачи перемещает сетку 9, а следовательно,и продольные проволоки 4 на шаг, равныйразмеру ячейки сетки 9,Часть сетки 9, которая расположена после 10механизма 8 шаговой подачи сетки перемещается устройством 10 натяжения. Звездочки 15,которые находятся постоянно в контакте с сеткой, по мере шаговой подачи сетки механизмом 8 перемещают ее в направлении ножниц20 по направляющим...

Способ определения краевого угла смачивания

Загрузка...

Номер патента: 438904

Опубликовано: 05.08.1974

Авторы: Евдощук, Иващенко

МПК: G01N 13/02

Метки: краевого, смачивания, угла

...либо выкапывают из микробюретки на подложку каплю определенного объема К Затем 5 или измеряют отрезки Н и г двухкоординатным катетомером непосредственно на меридиане капли, или каплю фотографируют для получения на фотопластинке ее увеличенной меридиональной проекции, после чего обме ряют на столике двухкоординатного измерительного микроскопа. Обычно при фотографировании вблизи пластинки помещают отвес, которьш дает метку вертикали для облегчения ориентирования пластинки на сто лике микроскопа. Помещая пластинку на столике так, чтобы метка вертикали совпала с направлением одной из координат х, и х 2 (фиг. 2), измеряемых микроскопом, находят максимальный диаметр капли 2 г=хе вучи тывая при этом коэффициент увеличения фотокамеры. Измеряют...