Эндерлейн
Устройство для измерения вольт-ам-перных характеристик сильноточныхсверхпроводников
Номер патента: 838765
Опубликовано: 15.06.1981
Авторы: Ширшов, Эндерлейн
МПК: H01F 6/06
Метки: вольт-ам-перных, сильноточныхсверхпроводников, характеристик
...обмотке 2 наводит ся ЭДС и при наии образца 3 во вторичном контуре протекает ток, Дя измерения тока вторичного контура используются индукционные катушки 5. Ток, протека,"ий через образец 3, создает магнитное поле, пропорциональное току, При изменении магнитнос го поля на катушках 5 возникает напряжение, пропорциональное ЛЬ,с, поэтому на работе катушек не сказываются постоянные внешние магнитные поля, После интегрирования по времени напряжения с катушек на выходе интегратора получается напряжение 0 = К 1 . Определение значения К производится экспериментально калибровкой измерительной систегы. В криостат 1 с жидким гелием помещается короткий образец 3, закрепленный на держателе 4 образца, С помощью сильноточных токовводов 14 (фиг. 2)...