Цвык

Страница 2

Оротрон

Загрузка...

Номер патента: 593589

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Балаклиций, Воробьев, Цвык

МПК: H01J 25/00

Метки: оротрон

...зеркал, что позволяетния длины дифракционных решеток на оптимизировать связь между электроноси пушки симметрично ей относитель- ным потоком и дифракционным излуно оси прибора, перпендикулярной осичением. За счет уменьшения площадипушки, расположен отражатель, формиру- дифракционных решеток, а также зающий, сходящийся пучок. счет того, что брусья этих решетокНа чертеже изображен предлагаемый не изолированы одюн от другого, уменьоротрон. шаются омические и дифракционные поРезонансная электродинамическая 20 терн в резонаторах.система оротрона выполнена в виде Для предлагаемого устройства недвух связанных симметрично и рас- требуется специальных фокусирующихположенных относительно оси оротрона систем (магнитных или же...

Квадратор

Загрузка...

Номер патента: 635498

Опубликовано: 30.11.1978

Авторы: Галахов, Цвык

МПК: G06G 7/20

Метки: квадратор

...с учетом, выражений (2) и (3) из выражения (1) следует В ивадраторе на,полевых транзисторах сопротивления резисторов 9 и 5 выбираются р ав ными или близкими по,велич и не. В ыбор рабочего участка характерстики транзистора 1 осуществляется установкой напряже. ния источника 11 смешения. Выголнение равенства (2) достигается путем соответст. зующвго выбора коэффициента передачи делителя на резисторах 10, б, Сопротивление резисторов 3 1 и 4 выбирается из условия (4) и обычайно,составляет несколько килоом. Сопротивление резисторов 7 ц д должно быть в несколько раз меньше обратного сопротивления р - лчперехола. Пэдбором величины сопротивления одного из этих резисторов устанавливается нуль на выходе при отсутствии,входного сигнала. При выборе...

Устройство для измерения структурной характеристики показателя преломления атмосферы

Загрузка...

Номер патента: 568876

Опубликовано: 15.08.1977

Авторы: Ивакин, Цвык, Шапиро

МПК: G01N 21/46

Метки: атмосферы, показателя, преломления, структурной, характеристики

...прием;ой с;- стемой 4, попадает на светоделнтельную пластину б, установленную под некоторым углом к оптической оси системь. Большая часть потока, отразив.пись от пластины, через дпафсо целПО 6, устапов,челн;ю в фокгльпой ллоскост:1 объектива, нейтральный светофильтр 7, плтсрференцпонлый фильтр 8 лолгдает на сотоэлс-.ктоонный умножптель 9 (ФЭЪ), Сигнал с ФЭУ поступает на первый вход двухканального селективного .с,чптелл 10, настроенного на частоту модуляции. Меньшая часть потока 1 Злученпя п 1 чоходт через пластн5, нейт 1 альн 11 светофльтР 11, интерференционный фпл 1 тр 12, пОадасУ на фотаэлектрсвы 1 умножптель 13, идентичный фотоумножителю 9. Сгнал с ФЭУ 13 ло568876 3 20 ступает на второй вход селективного усилителя 10. Сигналы с...