Бплик
Фотоэлектрический способ измерения толщины пластин из прозрачного л1атериала
Номер патента: 399723
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Бплик, Проектно
МПК: G01B 11/06
Метки: л1атериала, пластин, прозрачного, толщины, фотоэлектрический
...прохождения луча между точками, располо жецными в поле сканирования про:педшегочерез пластину светового луча, которая обратно пропорциональна величине временного интервала. Составители А. Лобзоваехрел Л. Богданова КорректоГп А. Никола и Л. КороРедакто нар Подппсо Год 1 инистров ССС Изд.42 Ти огуларственного комитета Совпо делам изобретений и отк Москва, Ж, Раунскан пас Заказ 2228Ц 11 И И П акта Ьрытийг ипографии, пр. Сапунова, 2 3Измерение временного интервала и блоке 6 осуществляют путем счета импульсов высскостабильцого генератсра 7, запуск когорого производят импульсом напряжения с фотоприемника 5, а выклю сцис - импу.ц сом с фотоприемника 4. Счетчик 8 считасг количество нхгпульсов и по окончании счета вьщаст сигнал ца цифровое...