Бондзинский

Номер патента: 1747410

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Азаров, Бондзинский, Панышева, Туниманова, Цехомский

МПК: C03C 4/06

Метки: окрашенного, светочувствительного, стекла

...термаобработок составляет 270-390 С. 35 Исследование процесса каллоидообразования серебра в мульгихромных стеклах показало. что при однократном облучении и последующей термообработке выделяется лишь часть коллоидного серебра, тогда как при многократных термооптических обработках практически все серебро переходит в коллоидное состояние, причем суммарная доза облучения при многократном ваздействии в пять раз превышает максимально 45 возможную одноразову 1 о дозу облучения стекла, Кроме того, суммарная доза на два порядка п ревы шает дозы, необходимые для мультихромного окрашивания, Зто позволила предположить, чта количество серебра, остающееся в стекле после процедуры окрашивания, значительно больше, чем затраченное, В силу...

Номер патента: 1701660

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Бондзинский, Панышева, Туниманова, Цехомский

МПК: C03C 3/112, C03C 4/06

Метки: стекло

...стеколдля диффуэно рассеивающих светофильтров,я)5 С 03 С 3/112, 4/06(57) Изобретение относится к производству стекла, способного выделять кристаллическую фазу заданных морфологии, концентрации и размера и использующегося в качестве диффузно рассеивающих светофильтров разной плотности, С целью создания диффузно рассеивающих фильтров за счет получения в стекле кристаллов диаметром 3 - 4 мкм в количестве (3 - 5)10 /см, стекло имеет следующий состав, мас. : ЯОг 68,0.-70,0, Ис " .5,0 - 17,0; ЕПО 6,6 - 9,9;АгОз 3,1 - 5,0; Вг 1,9 - 2,2; Е 0,5-0,8; А 9 0,0001-0,0003; СеОг 0,018-0,072; ЯЬгОз 01-0,2; 5 и Ог 0 0278 - 0,0357. 1 табл,Стекла могут быть использованы для изготовления набора диффузно рассеивающих светофильтров с различной...

Номер патента: 1597281

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Бондзинский

МПК: B29C 45/26

Метки: литьевая, полимерных, форма

...бурт 9 которого закреплен с нижней стороны плиты 3 матриц, Полуформы 1 и 2 связаны между собой колонками 10 и имеют выступы 11, входящие в пазы универсального литьевого блока, Ширина бурта 9 меньше внутреннего диаметра трубчатого выталкивателя 6. Длина прорези вильчатого выталкивателя 6 зависит от хода плиты 5 выталкивания, а ширина прорези меньше внутреннего диаметра трубчатого выталкивателя 6.При сборке литьевой формы (ее сменного пакета) трубчатый выталкиватель 6 вставляется через отверстие в плите 3 матриц в гнездо,Знак 8 вставляют в трубчатый выталкиватель 6, вводя бурт 9 в прорезь, фиксируют знак 8 закреплением пластины 12. Плиту 5 выталкивания надевают на вильчатый конец 7 вьп.алкивателя 6 и фиксируют, После сборки пакета обе...

Номер патента: 1455331

Опубликовано: 30.01.1989

Авторы: Ардашников, Бондзинский

МПК: G02B 27/30

Метки: автоколлиматор

...линз, выпуклостью обращенных друг к другу. Первая линза имеет радиус К, = (п)йц, вторая линза имеет радиус Кг =(М - 1) Бс, где и - показатель преломления материала, изкоторого изготовлены линзы; Бс - рабочий отрезок аппарата.Вторая линза выполнена либо в виде кольца так, что центральная часть параллельного пучка проходит через отверстие, а периферийная часть пучка фокусируется кольцевой зоной в плоскости приемника, либо ее центральная часть выполнена в виде плоскопараллельной пластины. Для получения беэаберрационного изображения объектив автоколлиматора выполнен в виде одиночных плоско- выпуклых линз, обращенных плоскостями друг к другу. Первая линза имеет выпуклую параболитическую поверхностьгс уравнением у2(п)Гц, вторая линза...

Номер патента: 1037199

Опубликовано: 23.08.1983

Авторы: Бондзинский, Ветрогонский, Наумов

МПК: G02B 27/17

Метки: изображения, линии, светящейся, сканирования

...индикатора впроцессе юстировки. ОДля вывода приведенного соотношения.рассмотрим модель процесса ( фиг.2).В нижней части фиг. 2 приведено взаиморасполбжение сканирующей и объектной щелей при различных углах нвклона, а в верхней - соответствующие им формы кривых изменения светового потока,где С - ширина изображения объеКтнойщели; 20высота светлого промежутка;Ь - высота перемычки;=22+и- высота изображения объектнойщели;Ч - угол наклона сканируоцей щели относительно изображенияобъектной,Пусть С; 0( Ч( 90, при этомсканирующая щель обеспечивает полное перекрытие изображения объектнойщели при любом значении Ч, а освещенность светлых участков объектнойщели одинакова и неизменна.Предположим, что сканирование осуществляется по...

Номер патента: 1006908

Опубликовано: 23.03.1983

Авторы: Бестужев, Бондзинский, Наумов

МПК: G01B 11/00

Метки: поверхностей, положения

...измерения пвремещениеповерхности 11 по направлению А вызывает поперечные смещения изображенийщели на диафрагмах 9 и 10. При иден 1 10069Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано для прецизионных измерений линейных смещений зеркально-отражающих поверхностей объектов, вчастности для контроля положения пленки в киносъемочной аппаратуре.Известны устройства для контроляположений зеркально-отражающих поверхностей, содержащие источник из Рлучения, проекционную и приемную оптическую системы, оптические оси которых расположены под углом к конт-ролируемой поверхности, и приемникизлучения 1"1 1,1Недостатком данных устройств является сложность юстировки оптическойчасти, обусловленная сложностью оптической...