Берегулин

Номер патента: 1624375

Опубликовано: 30.01.1991

Авторы: Андрианов, Берегулин, Ярошецкий

МПК: G01R 33/02

Метки: магнитного, напряженности, поля

...име 10 ет видУ 1 =/Егг -АН+1 е е+2где г - координата вдоль направления.Интегрирование проводится по областисуществования поля Е, совпадающей с об 15 ластью локализации светового пятна, В случае измерения двух разностей потенциаловв двух произвольных направлениях. лежащих в плоскости пластины, имеет место система уравнений20 а 11 Н+ а 12 Ну = М 1:а 21 Н, ф а 22 Н= Ч 2, (1).де Н, Ну - проекции вектора напряженности на два взаимно перпендикулярных направления в плоскости пластины 1;25 Ч 1 и Ч 2 - разницы потенциалов междуконтактами 3, 4 и 5, б соответственно;зц ( = 1,2) - параметры, определяемыесвойствами монокристалла, геометрии измерения Ч 1 и Ч 2, параметрами лазерного30 излучения определяемые при калибровкеустройства,Сигналы Ч 1 и Ч 2...