Аркман

Номер патента: 366424

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Авдеев, Аркман, Варич, Крашенинин, Нагаев

МПК: H01L 21/66

Метки: производной, температурной

...измерению о(Т)тем илц иным способом с последующим дифференцированием полученной зависимости.Однако процесс дифференцирования снижаетточность определения ЫйТ. Автоматизация 15этого процесса сильно усложняет экспериментальную установку.Предлагаемый способ позволяет непосредственно измерять температурную производнуюэлектропроводцости и заключается в следующем.Как известно, в неравномерно нагретомполупроводнике с градиентом температурыТ, направленном по оси Х, помещенном впеременное магнитное поле В, направленное 25по оси Л, возникает э. д, с, Нернста по оси Ув фазе с магнитным полем. Кроме того, в образце индуцируется э. д. с., повернутая пофазе на д/2 относительно магнитного поля.Экспериментально оказывается возможным ЗО...