Патенты с меткой «вязкостижидких»
Устройство для измерения вязкостижидких сред
Номер патента: 832419
Опубликовано: 23.05.1981
МПК: G01N 11/00
Метки: вязкостижидких, сред
...элементом 2, привод 3 с эр-суспензией 4, электроды 5, эластичную мембрану 6, диэлектрическую прокладку 7, толщина которой определяет зазор между электро 2 о дами.Устройство работает следующим образом.На электроды 5 подается напряжение отисточника ( на чертеже не показан), в результате этого за счет структурообразования832419 Формула изобретения 1 О 15 20 Составитель В. Филатова Техред А. Бойкас Корректор Тираж 907 Подписно Редактор О. ЧерниченкЗаказ 3163/32 Макаренко ВНИИПИпо де 3035, Мос илиал ПППГосударственного ам изобретений ва, Ж - 35, Рву ш Патент, г. Ужгор омитета СС открытий скан наб., д д, ул. Прое4/5 тная, твердой фазы происходит объемное расширение электрореологической суспензии (электродилатансия) и эластичная...
Устройство для измерения вязкостижидких сред
Номер патента: 842483
Опубликовано: 30.06.1981
Авторы: Ковальский, Яворский
МПК: G01N 11/06
Метки: вязкостижидких, сред
...для измерения вязкости.жидких сред содержит измерительную емкость 1, установленную в корпусе 2 фотоэлектрического уровнемера, образованного фотоэлементом 3 иисточником 4 света. Над измерительной емкостью установлен наполнительный сосуд 5 с отводящим патрубком 6и капилляром 7, помещенный в термостат 8. В полости между стенкамитермостата 8 и наполнительного сосуда 5 установлен нагревательный элемент 9. Капилляр 7 закрывается электромагнитным вентилем 10. В наполнительном сосуде 5 установлен датчик11 температуры, Корпус 2 фотоэлектрического уровнемера имеет отверстие12 для измерительной емкости 1 и отверстие 13 для формирования узкогопучка лучей от источника 4 света кфотоэлементу 3, Ось отверстия 13смещена относительно оси отверстия12 на...