Патенты с меткой «сверхвысоко-частотных»
Способ автоматического измерениячастотных характеристик сверхвысоко-частотных устройств
Номер патента: 824071
Опубликовано: 23.04.1981
Автор: Грудина
МПК: G01R 23/04
Метки: измерениячастотных, сверхвысоко-частотных, устройств, характеристик
...М, 7/2 и 4/ЗУ амплитуды на выходе сумматора будут иметьзначенияи=(с е )+(с ф )+ее сс к(ю) соэФ(а) РРи 1+рг г.1 и =(СЕ) (СЕ)Е Е 2 с 1 С 2 КФ)МАМ(э) ПРИ Ф 2+2 ЬТ,Ец=(с 1 еЙсте 2) - е,Е сс 21 Фо) зиКФ при+а+здтДетектированиенеобходимая временная задержка и попарное вычитаниенизкочастотных сигналов дают результирующие измерительные сигналыО,-о:0(в) Е Е с 1 с кцэ)созЮ(со),О;-О =Ь(в)ЕЕ сс к(,в)МпЧ(а),Эти сигналы несут информацию об измеряемых характеристиках . Их обработка в индикаторе дает результат измерения, не зависящий от частотных параметров иэмерительного устройства,т".е. получить зависимость.Подвергнув сигналы О -О иу коррекции путем умножения на коэффициент К 1/Ь(Ф) С. С, получаем Подав эти сигналы на отклоняющиепластины ЭЛТ по...