Патенты с меткой «свч-дефектоскопии»

Номер патента: 1748029

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Жук, Колчигин, Третьяков, Яровой

МПК: G01N 22/02

Метки: свч-дефектоскопии

...глубины залегания дефекта, Находя разность мощностей повепхнастнь 1 х воли надвух фиксированных частотах из вышеуказанного интервала и вычисляя отношениеэтих разностей, можно определить глубинузалегания дефекта Ь,Ря- Рк 1 1= - ехр(-12,5664 у Ь(г 1- т 2)/С)РВ 2 Ркг 12где нижним индексом "1" обозначены величины, измеренные на частоте т 1, а индекс "2"- на частоте 12. Видно, что отношение интенсивностей рассеянных дефектов электромагнитных полей на двух различныхчастотах оказывается не зависящим от размеров, формы и материала дефекта. Обращая последн ою фоомулу относительноглубины залегания дефекта, получимЬ = С 4 пР 1;2)- пРВ 1 - Рк 1)/(Р-Рк/12,5664 ) (11 - 12.Эта формула определяет процедуру обработки результатов измерений,На чертеже...