Патенты с меткой «скрытыми»
Способ дифференциальной диагностики между застойным соском и скрытыми друзами зрительного нерва
Номер патента: 1346150
Опубликовано: 23.10.1987
Авторы: Ковылин, Рыбников, Свердлин
МПК: A61F 9/00
Метки: диагностики, дифференциальной, друзами, застойным, зрительного, между, нерва, скрытыми, соском
...в динамике размеров слепогопятна до и после приема диакарба.П р и м е р. Два пациента М. и 3.Оба поступили на обследование с диагнозами: застойные соски зрительныхнервов, подозрение на опухоль головного мозга, При исследовании у обоихбольных констатирована при офтальмохромоскопии картина застойных сосков зрительных нервов, а также увеличение размеров слепых пятен. Послеприема 0,5 г диакарба трижды черезкаждый час исследовались размеры слепых пятен. У пациента М. было выявлено прогрессирующее уменьшение раэ Омеров слепых пятен (исходные размерыпо вертикали 25 см, по горизонтали17,5 см; через 1 ч после приема диакарба - соответственна 26 х 16,3;через 2 ч - 21 х 17,5; через 3 ч - 2517 х 16,5); т.е, вертикальный размерпретерпевал...
Кладка стен со скрытыми швами
Номер патента: 1465516
Опубликовано: 15.03.1989
Автор: Гаспарян
МПК: E04B 2/02
Метки: кладка, скрытыми, стен, швами
...Фиг. изображен элемент для кладки стены; на Фиг,2 - кладка, вид с фасада; на Фиг.3 " разрез А"А на фиг.2; на Фиг.4 " разрез Б-Б нафиг,2. 10Кладка стен выполнена иэ камней .с вогнутыми постельными 1 и боковыми 2 поверхностями. На лицевой и торцовой поверхностях камня. имеются выступы 3.15Пространство между камнями заполнено жидким раствором 4,Кладку выполняют следующим обра" зомеКамень, иалример, туфовый разме" 20 ром 300 х 400 х 320 грубого скола с чис- тотесанной лицевой поверхностью подают на приспособления для получения вогнутых поверхностей на постельных 1 и боковых 2 сторонах. 25 Затем готовые камня подают на стойку, где укладывают тычковыми рядами с перевязкой швов, а пространство между вогнутыми поверхностями заполняют...
Способ контроля микросхем со скрытыми дефектами
Номер патента: 1511721
Опубликовано: 30.09.1989
МПК: G01R 31/28, G01R 31/308
Метки: дефектами, микросхем, скрытыми
...вгодных микросхемах Насыщение выходного каскада может быть общимпризнаком для целого ряда отклонений50в работе операционного усилителя.Так, например, к насыщению выходногокаскада в конечном итоге приводиттакже стимулированное повышение ос 55вещенности возрастание начальногоразбаланса плеч в дифференциальныхкаскадах усилителя, возрастание суммарного тока генераторов стабильного тока и др, Поэтому в проц;.;.е контроляя повышают интенсивность световогопотока, например увеличивая напряжение питания осветителя, и одновременно контролир;ют по вольтметру изменение напряжения на выходе микросхемы.По установлению на выходе микросхемыпостоянного значения напряжения отмечают переход микросхемы в режим насыщения и измеряют установившуюся приэтом...