Патенты с меткой «склеивающего»
Способ наклеивания рубероида и подобных материалов при устройстве кровли с использованием битуминозного покровного слоя его в качестве склеивающего
Номер патента: 60295
Опубликовано: 01.01.1941
Автор: Михайлов
МПК: E04D 15/06
Метки: битуминозного, использованием, качестве, кровли, наклеивания, подобных, покровного, рубероида, склеивающего, слоя, устройстве
...7 прикреплен тяжелый каточек 8, производящий укатку склеенного рулонного материала. В нерабочем состоянии каток, как показано на чертеже стрелкой, заводится на пружинную подставку 9, укрепленную на каждой из поперечных рам станины 1.На валу 6 насажены пять поддерживающих колесиков, из которых два крайних колеса 10 снабжены ребордами с наружной стороны, служащими для сохранения направления рулонного материала во время наклейки, а средние колесики являются лишь поддерживающими рулонный материал. На валу 12 так же, как и на валу 6, насажены колесики 11.Таким образом рулонный материал, сходя с рулона, намотанного на вал 4, огибает вал 12, проходя по колесикам 11, огибает вал б, проходя по колесикам 10, после чего попадает под каток 8.На...
Способ контроля электрической прочности склеивающего стеклоцемента
Номер патента: 1651249
Опубликовано: 23.05.1991
Авторы: Киндзера, Лалак, Литвинов, Сигаев, Смелянская, Филимонюк
МПК: G01R 31/12
Метки: прочности, склеивающего, стеклоцемента, электрической
...емкости, Затем эталонные образцы подвергаются воздействию выпрямленного высоковольтного напряжения, величинукоторого повышают до пробивного напряжения,После этого определяют зависимостьмежду электрической прочностью. Ерри диэлектрической проницаемостьюОсновная масса испытываемых образцов, представляющих собой спрессованные из порошка стеклоцемента таблетки массой 10 г, которые подвергаются термообработке по режиме склейки оболочек, шлифуются с непараллельностью не хуже +0,01 мм до толщины 1,5-2 мм и покрываются проводящим слоем, подвергаются воздействиюпониженного переменного напряжениятой же частоты, что и при измерениидиэлектрической проницаемости Я эталонных образцов. В результате этогоизмеряется емкость и определяетсядиэлектрическая...