Патенты с меткой «rlc-контура»
Способ определения добротности и индуктивности rlc-контура и устройство для его осуществления
Номер патента: 1817040
Опубликовано: 23.05.1993
Авторы: Додотченко, Николаев
МПК: G01R 27/26
Метки: rlc-контура, добротности, индуктивности
...напряжение О на выходе ЛАТР статки свойственны способу и системе оп(записывают показания вольтметра 6); 5 ределения добротности и индуктивностив-пятых, миллиамперметром 7 перемен- последовательного В С-контура, в цепи коного тока измеряют ток ф/д в общем цепи торого включены диоды мостового выпряпараллельного ВС-контура и рассчитывают мителя с реальным током нагрузки контурапо выражению и диодов,10 Поэтому в лаборатории Института разг= О/1 А (2) работана и успешно действует перспективная система питания активной, емкостнойэквивалентное активное сопротивление на- (заряд емкостного накопителя) и активностроенноговрезонанстоковпараллельного индуктивной нагрузки от. однофаэного исКС-контура; 15 точника гармонического напряжения...