Патенты с меткой «пробирному»
Способ подготовки пробы к пробирному анализу
Номер патента: 1721108
Опубликовано: 23.03.1992
Автор: Швецов
МПК: C22B 11/00, G01N 1/28
Метки: анализу, подготовки, пробирному, пробы
...массы (25 - 50 г) и анализируют. Из второй частиматериала каждой фракции сначала отбирают аналитические навески одной массы (25-50 г) до полного расходования материала, затем индивидуально измельчают каждую навеску до крупности зерна - 0,071 мм и анализируют. Оценивают минимальную представительную массу аналитической пробы по формуле (2),Данные анализа и расчетов сведены в табл.1,Из полученных данных следует, что для этой партии проб представительная масса аналитической пробы равна 93,4 г, При измельчении пробы в пределах (-1) - (-0,077) мм ее однородность изменяется не значимо, поэтому аналитические навески могут быть отобраны непосредственно из лабораторной пробы, дробленной до -1 мм, а затем измельчены до необходимой степени. При...