Патенты с меткой «полутонов»

Устройство для коррекции полутонов в фототелеграфной системе

Загрузка...

Номер патента: 307533

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Ефимов, Орловский

МПК: H04N 1/38

Метки: коррекции, полутонов, системе, фототелеграфной

...оптическими плотностями), а усилители в каналах корректора - в величинах градиента воспроизведения полутонов, в результате чего повышается качество измерительных приборов всей фототелеграфной системы.На фиг, 1 представлена блок-схема предлагаемого устройства коррекции полутонов; на фиг, 2 - характеристика воспроизведения полутонов.Предлагаемое устройство содержит корректор 1, приемное устройство 2, на выходе которого получают фототелеграфный сигнал с определенным видом модуляции, разделяющие блоки 3; - 3, усилительный блок 4, - 4, суммирующий блок 5, выходной записывающий блок б.На графике (см. фиг. 2) пунктиром нанесена возможная кусочно-ломаная аппроксимация. Штрих-пунктиром для сравнения дана линейная характеристика...

Способ изготовления полутоновых клиньев для оценки качества воспроизведения полутонов факсимильной аппаратурой

Загрузка...

Номер патента: 962008

Опубликовано: 30.09.1982

Авторы: Каган, Кузнецова, Мигалинская, Панов, Шашевская, Эйдельзон

МПК: B41M 1/06

Метки: аппаратурой, воспроизведения, качества, клиньев, оценки, полутонов, полутоновых, факсимильной

...рецептуру смесевой краски по заданным значениям оптической плотности отражения полей клина.На графике (фиг. 2) приведены две кривые. Кривая 3 соответствует значениям оптической плотности отражения оттисков при измерении по-сырому, Кривая 4 .соответствует значениям оптической плотности отражения оттисков при измерении по-сухому. По заданным значениям оптической плотности отражения полей клина определяют толщину слоя базовой краски на оттиске по графику на фиг, 2,Способ илюстрируется примером.Проводят изготовление полутоновых клиньев способом офсетной печати для оценки качества воспроизведения полутонов факсимильной аппаратурой. Значения оптических плотностей пятнадцати полей клина и допустимые отклонения оптических плотностей от...