Патенты с меткой «поликристаллах»
Способ измерения параметра асимметрии градиента электрического поля в поликристаллах
Номер патента: 1735750
Опубликовано: 23.05.1992
МПК: G01N 24/00
Метки: асимметрии, градиента, параметра, поликристаллах, поля, электрического
...во вращающейся системе координат, а зна цение параметра асимметрииГЭП в изу", фф цаемом поликристаллическом образце определяют из соотношения Я = ЗР/йл,сз0 4Способ отличается большой точностью, так как изменения определяютсячерез значения частот, величина кото-рых задается генератором, т,е, возможно их точное определение. Кроме того,из"за подавления причин уширения резо"нансных линий в ВСК чувствительностьданного способа высока,Составитель И. СтаростенкоРедактор Н, Лаэоренко Техред И.дидык Корректор Л,Пилипенко. Заказ 1812 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, 3-35, Раушская наб., д. 4/3 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101...