Патенты с меткой «пирометрии»

Способ пирометрии спектрально-интегрального отношения

Загрузка...

Номер патента: 152101

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Свет

МПК: G01J 5/60

Метки: отношения, пирометрии, спектрально-интегрального

...метрии спекспектра. Измерение температуры светящихся тел известными способами пирометрии спектрального отношения (цвстовой пирометрии) производят по отношению двух разделенных в пространстве или во времени,и проинтегрированных в узких интервалах длин волн потоков излучения от указанных тел. Недостатком этих способов является уменьшение точности измерения температуры при ее повышении, причем чем больше длина волны, тем меньше точность измерения.Предполагаемый способ пирометрии спектрально-интегрального отношения позволяет исключить влияние температуры на точность ее измерения. Сущность способа заключается в том, что температуру источника излучения определяют по отношению монохроматического и полного (суммарного) излучений,На основании...

Ослабляющий светофильтр для пирометрии

Загрузка...

Номер патента: 198730

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Всесоюзный, Имени, Лапина

МПК: G01J 5/02, G01J 5/60

Метки: ослабляющий, пирометрии, светофильтр

...с яркостью образцовой лампы в двух длинах волн.Предложенный ослабляющий светофильтр для пирометрии отличается тем, что содержит два стекла с различной спектральной характеристикой, толщины которых определяются по формулам:- А, - О,)+ -А 2 - .О,)+Ю,=А з 142- (Аз - О, ) + -(А - 0;) + 2 О, = А 11 з где 1 ь 4 - толщины исходных стекол;101, , - толщины стекол нового светофильтра;А Аз - пирометрическое ослабление первого стекла при двух длинахволн;15Аз, А, - то же для второго стекла;А - желаемое значение пирометрического ослабления для новых светофильтров;ВР. - потери света, вызванные отражением от стекол при двух значениях длины волн. 1-1 апример, при применении стекла НС толщиной 4,12 лтл и стекла ОСтолщиной 25 4,01 льи...