Патенты с меткой «параметровматериала»
Емкостной способ определения параметровматериала
Номер патента: 425132
Опубликовано: 25.04.1974
Автор: Матис
МПК: G01R 27/26, G01R 31/00
Метки: емкостной, параметровматериала
...промежуточные значения глубин проникновения поля при непрерывном ее изме нении (в простейшем случае достаточно неменее двух фпксированнык значений глубин проникновения). Для частного значения толщины материала д==д, и периодическом изменении глубины проникновения электрического 30 поля емкость конденсатора изменяется отсреднего значения (точка а на кривой 1), до максимального (точка б на кривой 2) и до минимального значения (точка в на кривой 3).Развертку этого процесса во времени дает график 4, приведенный на фиг. 2.5В данном примере диапазон изменения толщины Лд подобран на участке кривых изменения емкости, где чувствительность конденсатора к толщине материала одинакова. Поэтому изменение только толщины материала 10...