Патенты с меткой «парациальных»

Номер патента: 1517510

Опубликовано: 27.11.1996

Авторы: Кириченко, Пащин, Рыбкин

МПК: G01L 27/00

Метки: градуировки, давлений, динамической, измерителей, парациальных

Способ динамической градуировки измерителей парциальных давлений, основанный на создании регулируемого давления паров от источника исследуемого вещества и редукции его с помощью системы камер, отделенных одна от другой диафрагмами известной проводимости, отличающийся тем, что, с целью снижения инерционности регулирования, в качестве источника паров исследуемого вещества используют твердоэлектролитную ячейку с проводимостью по ионам исследуемого вещества, а регулирование давления, паров осуществляют изменением напряжения на твердоэлектролитной ячейке при постоянной температуре.