Патенты с меткой «отб1скания»

Номер патента: 286354

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бутин, Занцев, Кремер, Цой

МПК: G06G 3/10

Метки: графа, замкнутб1х, контуров, независимых, отб1скания

...контуров и выражение их топологии единичными векторами производится следующим образом.Отключается схема И, и освободившийся полюс источника тока подсоединяется к последнему узлу цепи, моделирующей топологии графа. Ток распределяется какиы-либа об 1 разом по ветвям цепи. Направления тоиов в ветвях цепи запоминаются на ферритовых кольцах или триггерах. После этого подключается схема И, строиться дерево и выявляются ветви антидерева, Отключается схема И и общее питание цепи. Включается источник питания в разрыв первой ветви антидорева, Ток распределяется только по ветвям, составляющим соответствующий замкнутый независимый контур, причем направление тока соответствует направлению обхода данного контура. Направление тока обхода сравнивают с...