Патенты с меткой «немагнитном»

Способ измерения толщины изоляционных покрытий на проводящем немагнитном основании токовихревым методом

Загрузка...

Номер патента: 561079

Опубликовано: 05.06.1977

Авторы: Вяхорев, Трахтенберг

МПК: G01B 7/04

Метки: изоляционных, методом, немагнитном, основании, покрытий, проводящем, токовихревым, толщины

...достигается тем,что после усиления преобразуют нелинейно одновременно амплитуду и фазувносимого напряжения и по разностимежду логарифмом амплитуды преобразованного сигнала и логарифмом тангена фазы этого сигнала, деленной попоам, определяют искомую величину.Над контролируемым основанием снанесенным на него изоляционным покрытием располагают токовихревой накладной преобразователь и питают его отгенератора переменного тока. Напряжение холостого хода преобразователякомпенсируют компенсатором переменного напряжения и вносимое контролируеьым изделием напряжение преобразователя пропускают через усилитель пере56 1079 Составитель АндриевскийРедактор Б.федотов Техред Н.Андрейчук Корректор М,Демчик Заказ 1559/146 Тираж 907 ПодписноеЦНИИПИ...

Токовихревое устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий на немагнитном проводящем основании

Загрузка...

Номер патента: 567086

Опубликовано: 30.07.1977

Авторы: Будкин, Вяхорев, Трахтенберг, Фоменко

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрических, немагнитном, основании, покрытий, проводящем, токовихревое, толщины

...преобразователя, а фазочувствительный детектор 8 - в фазе, причем его выходное напряжение имеет противоположную полярность относительно выходного напряжения фазочувствительного детектора 7. Напряжение с выходов детекторов суммируется сумматором 11. Кроме того, выходное напряжение детектора 7 активной составляющей напряжения преобразователя преобразуется ключом 9 и блоком 13 нелинейной функции у=хе- и суммируется дополнительным сумматором 12 с выходным напряжением сумматора 11. Выходное напряжение дополнительного сумматора 12 регистрируется индикатором 10 толщины диэлектрических покрытий. Увеличение точности измерения толщины покрытия при малых значениях удельной проводимости основания доспигается путем дополнительного...

Электромагнитное устройство дляизмерения толщины диэлектрическихпокрытий ha немагнитном основании

Загрузка...

Номер патента: 828061

Опубликовано: 07.05.1981

Авторы: Авилова, Болдова, Дорофеев, Королева, Пыпочкин, Рожков

МПК: G01N 27/90

Метки: диэлектрическихпокрытий, дляизмерения, немагнитном, основании, толщины, электромагнитное

...катушки вихретокового преобразователя,На чертеже представлена структурная30 схема устройства.828061 Формула изобретения Электромагнитное устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий на немагнитном оановании, содержащее генератор, уравновешенную мостовую схему, соединенную своей токовой диагональю с генератором и включающую в одном из своих плеч резонансный параллельный И.С-контур с катушкой индукпивности, выполненной в виде накладного вихретокового преобразователяи усилитель, соединенный входом с измерительной диагональю моста, а выходом - с индикатором, отл и ч а ю ще е ся тем, что, с целью повышения точности, параметры вихретокового преобразователя и режим контроля выбраны из условия=Р 1/ щро-4;т = - " 0,8 - 0,96; Я=-5...

Вихретоковый способ контроля толщины диэлектрических покрытий на немагнитном основании

Загрузка...

Номер патента: 1084667

Опубликовано: 07.04.1984

Автор: Керпель

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковый, диэлектрических, немагнитном, основании, покрытий, толщины

...поясняющие предлагаежй способ.Годографы контролируемого параметра - толщины покрытия Ь (фиг.1 пред-, 60ставляют собой пучок линий, близкихк прямым и исходящих из точки с координатами (О:1). Годографы мешающего параметра - обобщенного параметраблизки к дугам окружностей,Исходящих из той же точки, приэтом р =ЯЬшр.прирс 4 г где Э - диаметр ВТП;6 - электропроводность основания;д - магнитная постоянная;к - выносимое сопротивление;ы - частота колебаний;С - емкость колебательного контура;Ь - индуктивность колебательного контура.Отстройку от измененийэлектропроводности основания (Фиг,2) обеспечивают перемещением рабочей точки по гбдографу обобщенного параметра р, а именно изменением"частоты затухающих колебаний выбирают на годографе Д...