Патенты с меткой «минералогических»

Способ спектрального анализа металлографических и минералогических шлифов

Загрузка...

Номер патента: 89519

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Королев

МПК: G01J 3/28

Метки: анализа, металлографических, минералогических, спектрального, шлифов

...мпкрообьсктивои(3) на Щель спектрографа (4). Для визуального наблюдения поверхности шлифа и правильной установки электрода над псучаемым местом шлифа последний освещается с помощью лампы (б) через систепу: конденсор (б), откидная призма(3). Наблюдение поверхности ведется в лучах, отраэкеппьтх от гллпола, через зеркальный микрообьектив (3), отрашатткльноо зеркало (9) и окуляр (10)Зеркало (9) покрыто ал 1 омпнпсм так,чтобы пучок падагощих на него лучей чостпчно проходил в окулярнуго часть микроскопа. Окуляр (10) снабжен перекрестием, с помощью которого в процессе работы осуществляется совмещение того места щпира, которое подлежит спектральпому анализу. Пзобразггение перекрестия окуляра через зсркальньтй мпкрообъектив(З) совпадает с...