Патенты с меткой «микроскоп-дефектоскоп»

Номер патента: 99083

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Соколов

МПК: G01N 29/08, G02B 21/00

Метки: микроскоп-дефектоскоп, ультразвуковой

...площади поперечного сечения электронного луча,При механической развертке мощные колебания, подаваемые на контактное устройство, дают большое отношение сигнал - шум и позволяют легче практически осуществить развертку.Для ооеспечения возможности послойного рассмотрения внутреннего состояния наблюдаемого объекта по всей его толщине в предлагаемом микроскопе-дефектоскопе применена звуковая линза, фокусирующая ультразвуковой луч в любой заданной точке объекта.На чертеже показача принципиальная схема предлагаемого ультразвукового микроскопа-дефектоскопа.Исследуемый образец 1, имеющий дефект 2, подвергается воздействию ультразвукового бегающего луча 3, излучаемого передающей кварцевой пластинкой 4, вмонтированной в электроннолучевую трубку о....