Патенты с меткой «микронеоднородности»
Фотоэлектрический способ измерения микронеоднородности удельного сопротивления
Номер патента: 397860
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Воронков, Зелезецкий, Макеев
МПК: G01R 31/26, H01L 21/66
Метки: микронеоднородности, сопротивления, удельного, фотоэлектрический
...- заряд электрона;0 - полное число носителей, создаваемыхсветом в единицу времени;5 - сечение образца;Ио, рп - подВИЖНОСТЬ, СООТВСТСТВСННО, ОСНОВных и неосновных носителей; р(Х,) - удельное сопротивление в месте нахождения световой полоски;- изменение напряжения, снимаемогос обпазца,397860 Составитель М. Ленешкина Текред Т. Курилко Корректор А. Дзесова Редактор Т. Орловская Заказ 50/17 Изд. Мз 16 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, К, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 Образец сканировали по длине модулированной с частотой 18 кгц полоской излучения шириной 50 мк, с длиной волны 1,1 мк. Скорость сканирования, осуществляемого...