Патенты с меткой «культурного»

Номер патента: 534194

Опубликовано: 05.11.1976

Авторы: Буц, Зеников, Паранюшкина, Попов

МПК: A01B 79/00

Метки: культурного, пастбища, почвой, ухода

...выеМ- ку дернины производят совместно с уплоч ненной почвой в форме непрерывных ниш фрезеруемых на глубину пахотного слоя с одновременным иэмельчением перемешива нием и разбрасьГванием вырезанной дернины и почвы по поверхности пастбища с це-, лью создания мульчирующего слоя.Обработка заключается в вырезывании 15 ниш шириной 2-3 см на глубину пахотцоспособного слоя с одновременным измельчением вырезанной дернины, перемешиванием ее с почвой и разбрасыванием в виде мульчи,на поверхности,Степки нищи це должны уплотняться ножами, Такая обработка, не затрагивая травянистого покровв 1 на преобладающей части ппощади, обеспечивает действительное уменьшение объемного веса почвы за счет последующего саморазрушения стенок циш и обре-овация...

Номер патента: 1159513

Опубликовано: 07.06.1985

Авторы: Артынова, Голубничая, Голубничий, Ломов

МПК: A01G 9/24

Метки: культурного, поддержания, почвы, режима, слоя, теплицах, технологического

...трубопроводы выполнены в виде нижнего и верхнего рядов перфорированных труб, установленных взаимно перпендикулярно, причем трубы верхнего ряда имеют дополнительную перфорацию на их нижней поверхности, при этом оба ряда труб соединены с центральным трубопроводом.На фиг.1 изображено устройство для поддержания технологичесКого режима культурного слоя почвы в теплицах, общий вид; на фиг. 2 - раздаточные параллельные перфорированные трубы, верхний ряд; на фиг. 3 - то же, нижний ряд; на фиг. 4 - сечение А - А на фиг. 2.Устройство для поддержания технологического режима культурного Слоя почвы в теплицах содержит центральный трубопровод 1 с вентилятором 2 с терморегулируемым приводом 3, емкости 4, которые соединены с распределительными...

Номер патента: 1820307

Опубликовано: 07.06.1993

Автор: Смекалова

МПК: G01N 24/10

Метки: археологических, идентификации, культурного, объектов, слоя

...спектра ЭПР. Для подобных измерений подходит малогабаритный спектрометр СЭПР, разработанный нз кафедре Физики полупроводников Белорусского госуниверситета и выпущенный Минским заводом "Политехник". Подготовленный образец насыпается в пластиковую кювету (не дающую сигнала ЭПР). Для используемого спектрометра размеры кюветы 3 мм в диаметре и 10 мм длиной. Кювета на штативе помещается в резонатор спектрометра СЭПР. Регистрация спектра производится при комнатной температуре, полной развертке поля (5000 Э) и времени регистрации е пределах 100-300 с. Для определения положения спектральной линии используется боковой эталон - порошок окиси марганца.Сопутствующие измерения. После регистрации спектра образец взвешивается иа торсионных весах...