Патенты с меткой «iuotejaii»

Номер патента: 250529

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ковальчук, Сенчило

МПК: G01L 1/00

Метки: ewii, iuotejaii, есггая

...1Известны способы измерения деформацийпри склеивании, заключающиеся в том, что измеряется отклонение конца консольно закрепленного образца при отверждении нанесенногона него клеевого слоя. 5Предлагаемый способ позволяет повыситьточность и надежность измерения деформаций,Достигается это тем, что образец с нанесенным клеевым слоем между склеиваемыми материалами огибают с двух сторон полосой из 10металлической фольги и помещают в воздухонепроницаемый термостойкий эластичный мешок, из которого откачивают воздух для равномерного обжатия образца, а по металлической полосе пропускают электрический ток. 15Способ заключается в следующем,На образец с одной стороны наносят клее,вой слой, затем прикладывают металлическуюполоску с клеммами,...