Патенты с меткой «исследуемыхчастиц»

Номер патента: 510165

Опубликовано: 05.04.1976

Авторы: Уоллес, Уолтер

МПК: G01D 1/14

Метки: исследуемыхчастиц, массе, общей, отношениямассы, размерак, системы, требуемого, частиц

...таких систем требует постоянной ручной перестройки амплитудных анализаторов и последующей трудоемкой обработки результатов.Цель изобретения - автоматизация измерений, повышение их точности и надежности.Поставленная цель достигается тем, что сравнивают интегральные оценки импульсов и выявляют их отношение, по которому посредством замкнутой цепи обратной связи из интегратора регулируют порог разделения импульсов и определяют отношение массы частиц требуемого размера к общей массе системы исследуемых частиц. Кроме того, устанавливают несколько смежных диапазонов разделения в исследуемой массе частиц и делают выбор между ними по напряжению на интеграторе, которое управ ляет логическим устройством, автоматическиосуществляющим...