Патенты с меткой «интегрально-оптических»
Материал для электронно-лучевого формирования в нем рефракционных интегрально-оптических элементов
Номер патента: 1721033
Опубликовано: 23.03.1992
Авторы: Бывалин, Длугач, Изынеев, Копылов, Кравченко, Ормонт
МПК: C03C 23/00, G11B 11/03
Метки: интегрально-оптических, материал, нем, рефракционных, формирования, электронно-лучевого, элементов
...увеличению их показателя преломления.Способность изменять показатель преломления под действием электронного луча указанных энергий сохраняется во всем достаточно узком интервале указанных изменений состава. При одинаковых энергиях электронов, диаметре электронного пучка и дозе облучения возникающее относительное изменение показателя преломления незначительно различается для стекол с разным соотношением компонентов в пре1721033 Составитель О. ЧечельТехред М.Моргентал Корректор М. Шароши Редактор А, Козориз Заказ 926 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 делах указанного...
Прозрачный материал для электронно-лучевого формирования в нем рефракционных интегрально-оптических элементов и структур
Номер патента: 1765129
Опубликовано: 30.09.1992
Авторы: Бывалин, Длугач, Изынеев, Копылов, Кравченко, Ормонт
МПК: C03C 23/00, G11B 11/03
Метки: интегрально-оптических, материал, нем, прозрачный, рефракционных, структур, формирования, электронно-лучевого, элементов
...радиационные свойства стекол, 20Применение фосфатных стекол указанного выше состава по новому назначениюстало возможным благодаря эффекту, заключающемуся в том, что при энергии3 - 30 кэВ и дозе поглощенных электроновб 10 эл/см остросфокусированный электронный пучок производит вфосфатных стеклах физико-химические изменения, приводящие к существенному увеличению их показателя преломления, 30В указанном узком интервале концентраций стекла сохраняют практически одинаковую способность изменять показательпреломления под воздействием электронного пучка, что было установлено с помощью интерференционно-микроскопических измерений, Также было установлено, что электронное облучение изменяет не только показатель преломлениястекла, но и его...