Патенты с меткой «дефектоскопииизделий»

Способ капиллярной дефектоскопииизделий

Загрузка...

Номер патента: 794477

Опубликовано: 07.01.1981

Авторы: Белялов, Дежкунов, Денель, Прохоренко

МПК: G01N 29/00

Метки: дефектоскопииизделий, капиллярной

...мембранного типа, характеризующийся неравномерным распределением амплитуды колебаний по поверхности излучателя, то в качестве добавок, повышающих кавитационную активность, целесообразно использовать поверхностно-активные вещества, например уксусную кислоту. В этом случае кавитационная активность отдельных пузырьков несколько снижается. Однако возрастает их общее количество и они более равномерно распределяются в рабочем объеме, несмотря на неравномерность распределения амплитуды колебаний по поверхности излучателя, В результате повышается общая эффективность воздействия ультразвука на процесс пропитки.Если используются излучатели поршневого типа при амплитуде колебаний в 5 - 10 раз выше порога кавитации, когда кавитационная...

Способ тепловой дефектоскопииизделий

Загрузка...

Номер патента: 808925

Опубликовано: 28.02.1981

Автор: Романченко

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопииизделий, тепловой

...элемент;электрическое сопротивлениетермочувствительного элемента;Т - температура разогретого термочувствительного элемента;Тс - температура поверхностиконтролируемого иэделия;Н - коэффициент рассеяния термочувствительного элемента.Приоднородной массе тела изделия коэффициент рассеяния Н в любой точке его поверхности постоянен, при наличии в теле, изделия дефекта, например полостч, меняется количество тепловой энергии, рассеиваемой термочувствительным элементом в тело контролируемого изделия, что приводит к изменению постоянной времени Т термочувствительного элемента вследствие изменения величины коэффициента рассеяния"рН(2) где ,Г - постоянная времени термочувствительного элемента;в - масса разогретого участкатела;с - удельная...

Способ тепловой дефектоскопииизделий

Загрузка...

Номер патента: 817567

Опубликовано: 30.03.1981

Автор: Романченко

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопииизделий, тепловой

...кривой переходного процесса (участок 1) изменения температуры Т термочувствительного элемента между уровнями ТА и Т, Крутизнакривой переходного процесса изменения температуры термочувствительногоэлемента определяется коэффициентомрассеяния Н термочувствительного элемента, однозначно связанного с еготепловой постоянной времени ь.Р ОСЬ д - 1Нгде % - тепловая постоянная временитермочувствительного элементта;в - масса нагретого уч стка тела;с - удельная теплоемкость материала контролируемого изделия;Н - коэффициент рассеяния термочувствительного элемента.Коэффициент рассеяния Н зависитот теплопроводности массы тела вместе разогрева, При наличии дефекта (полость, инородное тело и др.)в теле контролируемого изделия меняется тепловое...

Способ вихретоковой дефектоскопииизделий

Загрузка...

Номер патента: 842559

Опубликовано: 30.06.1981

Автор: Арш

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковой, дефектоскопииизделий

...и имеет экспоненциональный характер, при"842559 формула изобретения Юла чем крутизна этой кривой уменьшается в сторону Ь ионУчасток Оф В"кривой фиг. 2 в рабочей зоне компенсации зазора также квазилинвен и имеет вид экспоиенци- оиальный характеристики с уменыаающейся крутизной в сторону Ьщи.В зоне. компенсации выходные сигналы пропорциональны участкам статических характеристик оА и йы. Так как крутизна начальной части статических характеристик зависит от добротности контуров автогенераторных измерителей и. типа преобразователей, то. кваэилинейные характеристики ОА и ОВ линеаризуют с помощью настраиваеьнх преобразователей напряжения, приводя их к виду ОС и 00. Эти пря"е чаще всего имеют различную круотизну.Способ осуществляется...