Патенты с меткой «дефект»

Номер патента: 1211647

Опубликовано: 15.02.1986

Авторы: Касимов, Лядов, Петушков, Трахтенберг, Чернов, Шкатов

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковый, дефект, дефектоскоп, реакцией, точечный

...а влиянием остальных сек 1647 2 ций можно пренебречь, Следовательно, .П(х )=ТУ;(х;)=ОТ;=КСЯ(х;); х=1,24,где К - коэффициент преобразования,независящий от координаты х,Выбрав М таким, чтобы К Я=1, получаем1)(х, )=Я(х;); 1=1,24Таким образом, сигнал Б(х) на выходе детектора 3 можно с определенной1 р погрешностью считать равным Я(х).Параметры вихретокового дефектоскопа выбираются следующим образом.С помощью модуляционного вихретокового дефектоскопа, содержащего перестраиваемые электронные фильтры идатчик скорости перемещения контролируемых объектов через вихретоковый .преобразователь 2, исследуется выборка контрольных образцов 10 н опреде 2 О ляются оптимальные параметры фильтрации для наиболее надежного выявления дефектов, Такой...