Патенты с меткой «415627»

Номер патента: 415627

Опубликовано: 15.02.1974

МПК: G02B 5/18

Метки: 415627

...3), Варьируя о, со и ЛТ, а также угловое расстояние мекду точками с разной температурой, можно получить различное распределение показагеля преломления по длине кристалла, Кристалл вытягивается со скоростью о (которая будет своей для кристаллов разного типа) до тех пор, пока его длгша не превзойдет размер необходимого дифрякционного элемента. Диаметр выращиваемого кристалла подбирается также в зависимости от желаемых размеров дифракционного элемента, Другой прием получения периодического изменения показателя преломления - выращивание кристалла в поле с периодически меняющейся (например, за счет изменены мощности нагрева) температурой. Кристалл при этом можно вращать или не вращать. Можно менять периодически и другие параметры роста...