Патенты с меткой «163416»

Номер патента: 163416

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01N 15/02

Метки: 163416

...частиц, например ситовой анализ, способ микроскопических измерений, оптический и др.Однако эти способы анализа длительны, Предложен способ гранулометрического анализа сыпучих материалов, по которому исследуемые частицы помещают в электрическое поле плоских электродов и размеры частиц определяют по величине заряда, переносимого частицами от одного электрода к другому, а количество - по числу импульсов при данном напряжении.Сущность предлагаемого способа состоит в следующем. Исследуемые частицы помещают на нижний электрод датчика, на электроды подают определенное напряжение и все частицы приходят в непрерывное движение, а заряды, переносимые ими от электрода к электроду, создают импульсы напряжения на сопротивлении нагрузки,На чертеже...